X射线荧光分析的原理及应用

 X射线荧光分析(XRF)——是对任何种类的样品进行元素分析的好分析技术，无论必需分析的样品是液体、固体还是粉末。XRF可以将高的准确度和精密度与简单和快速的样品准备结合，对铍 (Be) 到铀 (U) 的元素喜迁分析，浓度范围从 100 % 到低至亚 ppm 级。
 

　　作为一种确定各种材料化学组成的一种分析方法，XRF的被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XRF也是一种非常有用的分析方法。
 

　　X荧光光谱仪可分为能量色散(EDXRF)和波长色散(WDXRF)两大类，随后将详细介绍。可分析的元素及检测限主要取决于所用的光谱仪系统。EDXRF分析的元素从Na到U； WDXRF分析的元素从Be到U。浓度范围从ppm到100%。通常重元素的检测限优于轻元素。